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您現(xiàn)在的位置: 北京北廣精儀儀器設(shè)備有限公司 > 供應(yīng)信息> 四探針電阻率測(cè)試儀 |
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發(fā)布時(shí)間: |
2024/11/13 15:02:00 |
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四探針電阻率測(cè)試儀 詳細(xì)說(shuō)明 |
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四端測(cè)試法是目前較先進(jìn)之測(cè)試方法,主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。 國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類中,四探針?lè)ㄉ婕暗桨雽?dǎo)體材料、金屬材料試驗(yàn)、絕緣流體、獸醫(yī)學(xué)、復(fù)合增強(qiáng)材料、電工器件、無(wú)損檢測(cè)、集成電路、微電子學(xué)、土質(zhì)、土壤學(xué)、水質(zhì)、電子顯示器件、有色金屬。 在中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類中,四探針?lè)ㄉ婕暗桨虢饘倥c半導(dǎo)體材料綜合、金屬物理性能試驗(yàn)方法、、、電工合金零件、特種陶瓷、質(zhì)譜儀、液譜儀、能譜儀及其聯(lián)用裝置、電阻器、半導(dǎo)體集成電路、工程地質(zhì)、水文地質(zhì)勘察與巖土工程、水環(huán)境有物質(zhì)分析方法、電工材料和通用零件綜合、半金屬、元素半導(dǎo)體材料、金屬無(wú)損檢驗(yàn)方法。 GB/T 6617-2009 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針?lè)?br>GB/T 14141-2009 硅外延層、擴(kuò)散層和離子注入層薄層電阻的測(cè)定.直排四探針?lè)?br>GB/T 1551-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定 直流兩探針?lè)?br>GB/T 6617-1995 硅片電阻率測(cè)定 擴(kuò)展電阻探針?lè)?br>GB/T 1552-1995 硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直排四探針?lè)?br>本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu). 半導(dǎo)材料四探針測(cè)試儀(BEST-300C) 半導(dǎo)電材料電阻測(cè)試儀BEST-300C 特點(diǎn):電阻精度:0.01%,小分辨率0.1uΩ; 方電阻精度:1%,小分辨率:0.1uΩ; 雙電測(cè)原理,提精度和穩(wěn)定性; 測(cè)試探頭直排和矩形可選; 標(biāo)配RS232、LAN、IO、通訊接; 可配戴軟件查看和記錄測(cè)試數(shù)據(jù); 適用范圍 使?四探針治具測(cè)試?狀或塊狀半導(dǎo)體材料、屬涂層以及導(dǎo)電薄膜等材料的?阻和電阻率 使?開(kāi)爾?測(cè)試夾直接測(cè)試電阻器直流電阻; 四端測(cè)試法是目前較之測(cè)試方法,主要針對(duì)高精度要求之產(chǎn)品測(cè)試;本儀器廣泛用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。 本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料之電導(dǎo)率。液晶顯示,無(wú)需人工計(jì)算,并帶有溫度補(bǔ)償功能,電導(dǎo)率單位自動(dòng)選擇,BEST-300C 材料電導(dǎo)率測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程,無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。選配:配備軟件可以由電腦操控,并保存和打印數(shù)據(jù),自動(dòng)生成圖表和報(bào)表。 本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,同時(shí)顯示電阻值、電阻率、方阻、電導(dǎo)率值、溫度、單位自動(dòng)換算,配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu). 提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇,滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求 四探針?阻測(cè)試儀是運(yùn)?四探針原理測(cè)量?塊電阻的專?儀器,電阻率和電導(dǎo)率同時(shí)顯。儀器 測(cè)試范圍0-10MΩ,分辨率0.1uΩ,電阻精度0.01%,精度2%??于測(cè)試半導(dǎo)體、屬涂層導(dǎo)電薄膜等材料的?阻和電阻率。 參數(shù)便于查看的顯示/直觀的操作性:高亮度、超清晰4.3寸彩色LCD顯示;操作易學(xué),直觀使用; 基本設(shè)置操作簡(jiǎn)單,方阻、電阻、電阻率、電導(dǎo)率和分選結(jié)果;多種參數(shù)同時(shí)顯示。
本產(chǎn)品網(wǎng)址:http://m.kangwai.cn/sjshow_507810393/ 手機(jī)版網(wǎng)址:http://m.vooec.com/trade_507810393.html 產(chǎn)品名稱:四探針電阻率測(cè)試儀 |
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電 話: |
86-010-66024083 |
傳 真: |
86-- |
手 機(jī): |
18911397564 |
地 址: |
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