首頁(yè) | 國(guó)際采購(gòu) | 公司庫(kù) | 供求信息 | 產(chǎn)品展廳 | 行業(yè)資訊 | 外貿(mào)手冊(cè) | 國(guó)際展覽 | 免費(fèi)注冊(cè) | 手機(jī)版 | B2B Marketplace
 

IC芯片電性能IV曲線分析數(shù)字源表

普通會(huì)員 信息未核實(shí) 會(huì)員編號(hào):10481259  
發(fā)送留言 聯(lián)系方式 收藏此公司
  商鋪首頁(yè)
  供求商機(jī)
  產(chǎn)品展廳
  報(bào)價(jià)信息
  采購(gòu)清單
  公司介紹
  證書榮譽(yù)
  招聘中心
  在線問答
 
  聯(lián)系方式
 
聯(lián)系方式
陶女士 女士
電話:86-027-87993690
手機(jī):18140663476
傳真:86--
詳細(xì)信息 我要留言

您現(xiàn)在的位置: 武漢普賽斯儀表有限公司 > 供應(yīng)信息> IC芯片電性能IV曲線分析數(shù)字源表
放大圖片
查看詳細(xì)信息
留言咨詢
查看該公司其他供應(yīng)信息
添加為商業(yè)伙伴
發(fā)布時(shí)間: 2024/12/12 13:41:00
IC芯片電性能IV曲線分析數(shù)字源表 詳細(xì)說(shuō)明
  芯片測(cè)試作為芯片設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、封裝、測(cè)試流程中的重要步驟,是使用特定儀器,通過對(duì)待測(cè)器件DUT(DeviceUnderTest)的檢測(cè),區(qū)別缺陷、驗(yàn)證器件是否符合設(shè)計(jì)目標(biāo)、分離器件好壞的過程。其中直流參數(shù)測(cè)試是檢驗(yàn)芯片電性能的重要手段之一,常用的測(cè)試方法是FIMV(加電流測(cè)電壓)及FVMI(加電壓測(cè)電流)。
傳統(tǒng)的芯片電性能測(cè)試需要數(shù)臺(tái)儀表完成,如電壓源、電流源、萬(wàn)用表等,然而由數(shù)臺(tái)儀表組成的系統(tǒng)需要分別進(jìn)行編程、同步、連接、測(cè)量和分析,過程復(fù)雜又耗時(shí),又占用過多測(cè)試臺(tái)的空間,而且使用單一功能的儀表和激勵(lì)源還存在復(fù)雜的相互間觸發(fā)操作,有更大的不確定性及更慢的總線傳輸速度等缺陷,無(wú)法滿足高效率測(cè)試的需求。
實(shí)施芯片電性能測(cè)試的~佳工具之一是數(shù)字源表(SMU),數(shù)字源表可作為獨(dú)立的恒壓源或恒流源、電壓表、電流表和電子負(fù)載,支持四象限功能,可提供恒流測(cè)壓及恒壓測(cè)流功能,可簡(jiǎn)化芯片電性能測(cè)試方案。
此外,由于芯片的規(guī)模和種類迅速增加,很多通用型測(cè)試設(shè)備雖然能夠覆蓋多種被測(cè)對(duì)象的測(cè)試需求,但受接口容量和測(cè)試軟件運(yùn)行模式的限制,無(wú)法同時(shí)對(duì)多個(gè)被測(cè)器件(DUT)進(jìn)行測(cè)試,因此規(guī);臏y(cè)試效率極低。特別是在生產(chǎn)和老化測(cè)試時(shí),往往要求在同一時(shí)間內(nèi)完成對(duì)多個(gè)DUT的測(cè)試,或者在單個(gè)DUT上異步或者同步地運(yùn)行多個(gè)測(cè)試任務(wù)。

基于普賽斯CS系列多通道插卡式數(shù)字源表搭建的測(cè)試平臺(tái),可進(jìn)行多路供電及電參數(shù)的并行測(cè)試,高效、精確地對(duì)芯片進(jìn)行電性能測(cè)試和測(cè)試數(shù)據(jù)的自動(dòng)化處理。主機(jī)采用10插卡/3插卡結(jié)構(gòu),背板總線帶寬高達(dá) 3Gbps,支持 16 路觸發(fā)總線,滿足多卡設(shè)備高速率通信需求;匯集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能,具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強(qiáng)、多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn),~高可擴(kuò)展至40通道。


使用普賽斯數(shù)字源表進(jìn)行芯片的開短路測(cè)試(Open/Short Test)、漏電流測(cè)試(LeakageTest)以及DC參數(shù)測(cè)試(DC ParametersTest)。

開短路測(cè)試(Open-Short Test,也稱連續(xù)性或接觸測(cè)試),用于驗(yàn)證測(cè)試系統(tǒng)與器件所有引腳的電接觸性,測(cè)試的過程是借用對(duì)地保護(hù)二極管進(jìn)行的,測(cè)試連接電路如下所示:


漏電流測(cè)試,又稱為L(zhǎng)eakage Test,漏電流測(cè)試的目的主要是檢驗(yàn)輸入Pin腳以及高阻狀態(tài)下的輸出Pin腳的阻抗是否夠高,測(cè)試連接電路如下所示:


DC參數(shù)的測(cè)試,一般都是Force電流測(cè)試電壓或者Force電壓測(cè)試電流,主要是測(cè)試阻抗性。一般各種DC參數(shù)都會(huì)在Datasheet里面標(biāo)明,測(cè)試的主要目的是確保芯片的DC參數(shù)值符合規(guī)范:

IC芯片電性能IV曲線分析數(shù)字源表就找普賽斯儀表,詳詢一八一四零六六三四七六;





本產(chǎn)品網(wǎng)址:http://m.kangwai.cn/sjshow_507808712/
手機(jī)版網(wǎng)址:http://m.vooec.com/trade_507808712.html
產(chǎn)品名稱:IC芯片電性能IV曲線分析數(shù)字源表
 
·聯(lián)系方式
武漢普賽斯儀表有限公司 “未認(rèn)證”表示未核實(shí)營(yíng)業(yè)執(zhí)照
陶女士 女士 市場(chǎng)專員
 
  電  話: 86-027-87993690
傳  真: 86--
手  機(jī): 18140663476
地  址: 東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)光谷大道308號(hào)光谷動(dòng)力節(jié)能環(huán)保產(chǎn)業(yè)園8棟2樓
網(wǎng)  址: http://whpssins.cn.vooec.com
郵  編:


重要提示:
網(wǎng)上信息有風(fēng)險(xiǎn),實(shí)際交易過程中請(qǐng)務(wù)必保持警惕,并仔細(xì)核實(shí)相關(guān)有效證件!如與網(wǎng)頁(yè)上的公司合作,請(qǐng)務(wù)必交易前核實(shí)相關(guān)公司資質(zhì),并簽訂相關(guān)合同等!請(qǐng)勿隨意給陌生人匯款,以免上當(dāng)受騙!『防騙必讀
免責(zé)聲明:
以上信息由網(wǎng)友自行發(fā)布,國(guó)際貿(mào)易網(wǎng)僅展示上述信息,國(guó)際貿(mào)易網(wǎng)不能確保上述信息的真實(shí)性、準(zhǔn)確性、完整性,也不承擔(dān)瀏覽者的任何商業(yè)風(fēng)險(xiǎn)。因此,國(guó)際貿(mào)易網(wǎng)不承擔(dān)您因此而發(fā)生或致使的任何損害,但我們歡迎您舉報(bào)與投訴。國(guó)際貿(mào)易網(wǎng)保留刪除上述信息的權(quán)利。
免責(zé)條款 | 公司列表 | 產(chǎn)品 | 商機(jī) | 報(bào)價(jià)
本網(wǎng)站版權(quán)歸國(guó)際貿(mào)易網(wǎng)所有 Copyright © m.kangwai.cn 2003~2023