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| 您現在的位置： 武漢普賽斯儀表有限公司 > 供應信息> SiC GaN三代半功率器件參數分析儀 |
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| 發(fā)布時間： |
2024/12/12 13:41:00 |
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PMST系列功率器件靜態(tài)參數測試系統(tǒng)，是普賽斯儀表經過精心設計與打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅具備IV、CV、跨導等多元化的測試功能，還擁有高精度、寬測量范圍、模塊化設計以及便捷的升級擴展等顯著優(yōu)勢。它能夠全面滿足從基礎功率二極管、MOSFET、BJT、IGBT到寬禁帶半導體SiC、GaN等晶圓、芯片、器件及模塊的靜態(tài)參數表征和測試需求，確保測量效率、一致性與可靠性的卓越表現。
此外，普賽斯儀表功率半導體靜態(tài)參數測試解決方案還支持交互式手動操作或結合探針臺的自動操作，能夠在整個表征過程中實現高效和可重復的器件表征。同時，該方案還可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用，滿足高低溫測試需求。從pA級、mV級高精度源表到kA級、10kV源表，普賽斯的產品解決了國內企業(yè)在半導體芯片以及第三代半導體芯片測試中的儀表國產化問題，并在客戶IGBT產線上推出了多條測試示范線，引領了國內IGBT測試的技術潮流。詳詢18140663476
“雙高”系統(tǒng)優(yōu)勢
高電壓、大電流
具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達3500V(蕞大可擴展至10kV)
具有大電流測量/輸出能力,電流高達6000A(多模塊并聯)
高精度測量
nA級漏電流, μΩ級導通電阻
0.1%精度測量
模塊化配置
可根據實際測試需要靈活配置多種測量單元系統(tǒng)預留升級空間,后期可添加或升級測量單元
測試效率高
內置專用開關矩陣,根據測試項目自動切換電路與測量單元
支持國標全指標的一鍵測試
擴展性好
支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具
測試項目
集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices、柵極漏電流Iges
柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容、輸出電容、反向傳輸電容
續(xù)流二極管壓降Vf
I-V特性曲線掃描，C-V特性曲線掃描等
普賽斯數字源表集電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載功能于一體，支持四象限工作、微弱電流10pA輸出測量、3500V高壓下nA級測量、1000A脈沖大電流輸出，全系列產品豐富，詳詢一八一四零六六三四七六；
本產品網址：http://m.kangwai.cn/sjshow_507810677/
手機版網址：http://m.vooec.com/trade_507810677.html
產品名稱：SiC GaN三代半功率器件參數分析儀 |
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電 話： |
86-027-87993690 |
| 傳 真： |
86-- |
| 手 機： |
18140663476 |
| 地 址： |
東湖新技術開發(fā)區(qū)光谷大道308號光谷動力節(jié)能環(huán)保產業(yè)園8棟2樓 |
| 網 址： |
http://whpssins.cn.vooec.com |
| 郵 編： |
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